IEEE Design & Test of computers.

Detalles Bibliográficos
Formato: Desconocido
Lengua:inglés
Datos de publicación: Nueva York : IEEE computer society; IEEE Circuits and Systems Society.
Temas:
Acceso en línea:http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54
Notas:Continúa como IEEE Design and Test (2013-al presente).
ISSN:0740-7475