IEEE Design & Test of computers.
Formato: | Desconocido |
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Lengua: | inglés |
Datos de publicación: |
Nueva York :
IEEE computer society; IEEE Circuits and Systems Society.
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Temas: | |
Acceso en línea: | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54 |
Notas: | Continúa como IEEE Design and Test (2013-al presente). |
ISSN: | 0740-7475 |