Medición de tiempo de vida media de portadores minoritarios en semiconductores /
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lengua: | español |
| Datos de publicación: |
La Plata :
Universidad Nacional de La Plata. Facultad de Ingeniería. Departamento de Electrotecnia,
2009.
|
| Temas: | |
| Resumen: | Introducción - Tiempos de vida de portadores minoritarios en semiconductores - Métodos de medición de tiempos de vida - Diseño del sistema de medición - Desarrollo del software - Diseño del circuito impreso - Resultados - Conclusiones - Apéndices. |
| Descripción Física: | 186 p. : anillado |