Measurement of the Critical Masking Interval

Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Miyasaka, Eiichi
Formato:	Desconocido
Lengua:	inglés
Datos de publicación:	Tokyo : NHK Science and Technical Research Laboratories, 1986.
Edición:	NHK
Series:	NHK Laboratories Note, 334
Temas:	DISPLAY
ISSN:	0027-657X

MARC


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