Resultados de búsqueda - Chakrabarty, Krishnendu

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    Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs por Noia, Brandon

    Cham : Springer International Publishing : Imprint: Springer, 2014.
    Otros autores o Colaboradores: “…Chakrabarty, Krishnendu…”
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